苏州中科集成电路设计中心

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合作单位：香港科技园集成电路设计及开发支援中心
地点：香港，香港科技园

香港科技园（Hong Kong Science & Technology Parks）

香港科技园于2001年由香港政府特别行政区政府设立的法定机构。面向电子、生物、精密工程等科技领域，提供技术支持，专业培训以及科技企业培育等功能。在科技园内成立集成电路设计及开发支援中心，用于扶持和促进集成电路企业的发展。

集成电路开发支援中心（IC Development Support Centre）为客户提供IC测试开发服务，探测与测试服务，射频与模拟工程，支援芯片可靠性测试及产品失效分析服务。有以下主要实验室。

探测及测试开发中心（Probe & Test Development Centre）

配备有自动测试设备，支援系统芯片、模拟、混合信号、射频及数字产品测试。客户可按小时计时方式租用各类设备。

Class	ATE Vendor & Model
MixedSignal Tester	Verigy: V93K PS800, V93K C200E Credence: Octet, Quartet One, ASL1000
RF Tester	Credence ASL3000RF
Digital Tester	Teradyne J750
Analog Tester	Egle ETS-300
Memory Tester	Credence Kalos
Engineering Verification	IMS Gemini
Pick & Place Test Hander	Delta EDGE, Sunax SX-141
Wafer Prober	TSK UF200A
ThermoStream	Temptronic TPO4310A

可靠性试验室（Reliability Laboratory）

配备有先进的可靠性测试设备，支援气候模拟测试、环境模拟测试及集成电路/半导体产品生命周期测试。主要服务包括电子温度特性测试、驱动板/老化电路板设计、静动态老化测试、温度循环测试、高压加速测试、静电放电测试。

Oven/Chamber	ATE Vendor & Model
High Temperature Oven	Espec PH-201
Ultera High Temperature Oven	Espec STPH-201M
Bench Top Temperature and Humidity Chamber	Espec SH-661
Temperature and Humidity Chamber	Espec PL-1KP
Temperature and Humidity Chamber with UV or Sunlight Simulation	Feutron 3436/16/S400
Temperature, Humidity and Pressure Chamber	Espec EHS-411MD, EHS-221MD
Thermal Shock Chamber	Espec TSE-11A
Solder Reflow System	Heller 1809EXLN
Burn-In Test System	EDA DA-24
Fast Rate Chamber	Votsh VCS 7048-15

集成电路产品分析试验室（IC Product Analysis Laboratory）

配备有各种电性、化学、材料、表面和微细分析、失效分析、新产品设计查错等先进设备。

Equipment	Vendor & Model
Time Resolved Backside Signal Acquisition System	Optonnics EmiScope-II
SEM with EDX and Voltage Contrast	FEI Quanta 600
ESD (HBM/MM) & Latch-up Testter	Thermo KeyTek ZapMaster MK 2
WSD Tester (CDM)	Thermo KeyTek RCDM3
Scanning Acoustic Microscope	KSI WIN SAM-Vario III
Focused Ion Beam System	Credence OptiFIB
Emission Microscope, EMMI	Credence Meridian
Confocal Microscope	Keyence V-9510

Last Upadate:2008.06.10