CTC2008 China Test Conference

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征文范围（不限于以下内容）

ATPG
SOC/ASIC测试
微处理器测试
存储器测试
高速数字测试
模拟和混合信号测试
RF测试
At-speed测试
时延测试
IDDQ和电流测试
缺陷测试

设计验证
模拟技术
测试综合
可测试性设计
可调试性设计
可靠性设计和测试
可制造性设计和测试
软件测试
软件可靠性
网络测试
软件测试平台

故障诊断
容错技术
信息安全
硅片验证和特性测试
硅片调试和诊断
良品率分析测试
系统级测试和诊断
ATE硬件和软件
生产测试自动化
测试经济学

论文录用和发表

重要日期

会议录用的论文将出版论文集，择优论文将推荐到《计算机辅助设计与图形学学报》和《计算机研究与发展》EI源期刊发表。

2008年2月29日：征文截止
2008年4月02日：论文录用通知
2008年4月25日：论文修改稿截止
2008年5月21日：技术讲座（Tutorials）
2008年5月22~23日：正式会议

联系方式
程序	沈理	lshen@ict.ac.cn	(0512) 6288.9083
		215021苏州工业园区机场路328号国际科技园二期E301苏州中科集成电路设计中心
投稿	胡瑜	huyu@ict.ac.cn	(010) 6260.0719
		100080北京海淀区中关村科学院南路6号中国科学院计算技术研究所
出版	刘晓飞	liuxiaofei@szicc.com.cn	(0512) 6288.9099
		215021苏州工业园区机场路328号国际科技园二期E301苏州中科集成电路设计中心
会务	汤晓蓉	tangxr@szicc.com.cn	(0512) 6288.9012
		215021苏州工业园区机场路328号国际科技园二期E301苏州中科集成电路设计中心
注册	贾海燕	jiahaiyan@szicc.com.cn	(0512) 6288.9081
		215021苏州工业园区机场路328号国际科技园二期E301苏州中科集成电路设计中心

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中国计算机学会