静电放电（ESD）是指一定量的电荷从一个物体（例如人体）转移到另一个物体上（例如芯片）的过程。这个过程可导致芯片在很短的时间内通过一个非常大的电流，35%以上的芯片失效是由ESD引起的。因此，在半导体工业中，片上设计ESD保护结构使芯片免受ESD应力是极其重要的。事实上，从世界范围看，在满足各种电子应用中越来越严苛的ESD防护需求方面，多数半导体公司都面临着相当的困难。
本专题讲座全面覆盖了与ESD机制和防护设计相关的各种问题，包括BiCMOS/CMOS芯片的静电放电（ESD）防护基本原理，设计和仿真。
- 适合对象：
产业界中从事模拟/数字/混合/RF IC，MEMS，存储器和平板显示相关的设计、制造和表征的工程师及管理者。半导体器件，集成电路设计和一般电子系统领域的教师和学生。
- 讲座大纲（3小时）：
1. ESD综述（电荷产生，损伤机理，ESD标准，ESD防护方案）
2. ESD测试和测量
3. 片上ESD防护设计实例：Data communication transceiver 和 gas sensor
4. 基于工艺／器件仿真的计算机辅助ESD设计（基于TCAD的ESD防护设计方法学）
- 演讲人：
刘俊杰博士
美国中佛罗里达大学教授 浙江大学曹光彪讲座教授
美国国家科学委员会杰出讲座 IEEE 电子器件协会杰出讲座 IEE会士
刘博士于1982、1983和1987获得佛罗里达大学学士、硕士和博士学位。现任中佛罗里达大学电机和计算机工程学院副院长，教授，固态电路实验室主任。主要研究领域包括：微/纳米电子TCAD、RF器件建模及仿真、半导体制造和可靠性工程。他拥有三项发明专利，出版了6本专业教科书、210多篇期刊论文（邀请综述14篇）、160余篇会议论文（邀请综述58篇）。累计科研经费高达700万美元，经费主要来自于联邦机构（例如NSF ,DARPA,空军，海军，NIST），州政府和与业界（包括Intel, TI, Lockheed Martin, Lucent Technologies, Alcatel Space, Analog Devices, Fairchild等一批知名公司）的合作。他有数项技术专利应用于Intel P4-CPU和WLAN芯片中。由于其在教学和研究领域的杰出表现，他曾先后获得美国中佛罗里达大学（UCF）的10项不同荣誉，以及IEEE EDS的杰出讲座等6项不同荣誉。其中，分别于1992，1998和2002年三次获评UCF杰出研究员。
现受聘为浙江大学曹光彪讲座教授，武汉华中科技大学的顾问教授，上海交通大学的名誉教授。他同时还是IEE会士、IEEE高级会员、IEEE杰出讲座，并担任IEEE Microelectronics Reliability等多个学术期刊的主编或评审人、IEEE EDS分会副主席及多个国际学术年会的主席或分会主席。
- 讲座语言：中文
- 主办单位：
苏州独墅湖高等教育区
苏州大学电子信息学院
苏州市集成电路行业协会
苏州中科集成电路设计中心
- 承办单位：苏州独墅湖图书馆
- 讲座时间： 2007年03月19日（周一） 14：00-17：00
- 讲座地点：苏州独墅湖高教区图书馆2楼报告厅（苏州工业园区仁爱路258号）。
- 课程费用： 本次讲座需采取提前预约、免费参加的方式。名额有限，请从速报名。
- 报名方式：
1.请填妥附件（或通过网络下载报名表)报名表格。
2.选择下面方便的联系方式，通过传真或Email回执报名表。
3.我们在收到报名表后将向您发放报名确认函。
4.在讲座当天按确认函上的时间和地点提前到教室签到参加课程的学习。
5.报名截止日期：2007年03月15日
- 报名联系方式：
苏州中科报名点：苏州工业园区机场路328号国际科技园二期E301。
联系人：赵先生 电话：0512-62889079 传真：62889111 Email：zhaoy@szicc.com.cn。
独墅湖高教区图书馆报名点：地址：苏州工业园区仁爱路258号苏州独墅湖图书馆。
联系人：顾老师/李老师 电话：62604011 传真：65936881 Email：guyy@sipedi.cn。 |
