尊敬的先生 / 女士:
您好!DFT技术已经成为IC设计中非常关键的一个步骤,对于量化生产更是举足轻重:首先是保证芯片质量,其次缩短产品上市时间,此外,采用DFT技术可以降低测试成本。Mentor公司提供的完备的、高质量、低成本的DFT设计流程,在DFT技术方面出于业界领先地位。这次培训涉及到内容包括测试综合、ATPG和BIST;涉及的Mentor产品有: ■ DFTAdvisor ■ Fastscan ■ TestKompress ■ MBISTArchitect ■ BSDArchitect ■ DFTInsight
我中心将联合Mentor Graphics举行 “DFT培训班”。培训结束后我们将颁发“Mentor DFT”结业证书,欢迎对可测性设计技术感兴趣的用户参加。
举办时间: 2004年10月23日-24日 举办地点: 苏州市机场路328号国际科技园E301中科集成电路设计中心 主讲教师: 敬伟
敬伟背景: 1993年~2000年在成都电子科大获得电子工程学士和硕士学位,专业方向为电子工程和数字信号处理。 2000年~2002年在华为公司北研所,从事大规模数字ASIC前端设计和研发工作,主要负责代码设计、DFT和设计验证,曾经主导了多个大规模ASIC芯片的设计、测试和验证工作,对ASIC设计前端有深刻而独到的见解。 2003年年初加入AcconSys公司负责Mentor Graphics公司DFT以及验证平台的技术支持和用户服务,曾经协助用户成功完成了一系列高质量的DFT设计,测试覆盖率都在98%以上,参与的芯片设计覆盖CPU、DSP、加解密、通信等广泛的领域。 培训费用: 原价800 RMB/人,现由政府补贴50%,自费个人400RMB/人(包括工作午餐、教材费、证书费) 联络人:丁一明 电话: 0512-62889097 传真:0512-62889111 E-MAIL:dingym@szicc.com.cn
请填妥报名表后,传真或E-MAIL至我公司。 TWO days DFT Advanced Training Schedule: Day 1: Morning: 1 Introduction Manufacturing test and the need for DFT 2 DFT Methodologies & Applications DFT issues and methodologies for testing at chip, core, SoC, board and system levels 3 Improving Test Quality Techniques for ensuring high coverage test sets LUNCH Afternoon: 4 Saving Time & Money Cost factors of DFT, improving productivity and test set efficiency 5 Recommendations & Conclusion Implementing DFT in today’s designs 6 Mentor's DFT Solutions Overview 7 Some Issues Clocking issues, Miscellaneous issues Lab or Demo Day 2: Morning: At-Speed Test: Improving Defect Detection for Nanometer Designs * Quality & At-Speed Test * At-Speed Logic Test - Defining At-Speed test - Path Delay & Transition Faults - At-Speed Patterns & Clocking - Issues & Solutions * At-Speed Memory Test - Memory BIST - Macro Testing * Conclusion * Issues in At-Speed Test Lab LUNCH Afternoon: Understanding your Options for Test Compression --Comparing Compression Methods * Comparison factors * Comparing the techniques - ATPG (automatic test pattern generation) - EDT (Embedded Deterministic Test) - Illinois Scan - DBIST (Deterministic Built-In Self-Test) - LBIST (Logic Built-In Self-Test) - Hybrids and other methods * Summary & Recommendations
[url=http://www.szicc.com.cn/download/bmhz.doc]点击下载报名回执[/url] |